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在瞬間導通功能上8740採用更快速的類比開闢作切換量測，以減
少繼電器跳動造成接觸點的磨損，其掃瞄速度比傳統機器快15倍，並可單獨設定規格而不與一般導通規格共用。
工商時報【台北訊】
MICROTEST 8740在量測技術上使用高端32Bit True-RMS DSP（數位信號處理器），有別於一般傳統測試機在量測時所使用的ADC（類比數位轉換積分器）。除了32位元的資料提高相當的精準度 外，信號處理的速度也能增快數十倍。
一般導通不良的原因大致是線材材質不好，接點氧化，端子與接點箝夾不對位，接點冷焊等。而瞬間導通不良的原因大致冷焊，斷線後芯絲搭連，端子與接點箝夾鬆動等。
益和公司表示，瞬間導通不良是指當待測線材一般項目測試完成後，作搖擺測試時，突然接點導通電阻有變化過大的情況，但在其他角度時又恢復正常，這種現 象稱為瞬間導通不良。
為讓客戶更進一步了解高精密測試儀器8740與傳統測試機CT8681在量測過程中，瞬間導通測試的差異性，該公司特別提出分析。
益和股份有限公司推出線材測試儀器8740，具128/256及512三種不同測試點，能滿足線材多點位 的需求。
8740是以前後兩次的量測值差做為判斷標準，並設定時間來做測試，而傳統機器則是設定最大導通值及掃瞄次數做測試，8740量測一組導通電阻約為2ms，而8730與傳統測試機則要30ms。洽詢電話：02-26983877，益和官網：www.microtest.com.tw。
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工商時報【台北訊】
MICROTEST 8740在量測技術上使用高端32Bit True-RMS DSP（數位信號處理器），有別於一般傳統測試機在量測時所使用的ADC（類比數位轉換積分器）。除了32位元的資料提高相當的精準度 外，信號處理的速度也能增快數十倍。
一般導通不良的原因大致是線材材質不好，接點氧化，端子與接點箝夾不對位，接點冷焊等。而瞬間導通不良的原因大致冷焊，斷線後芯絲搭連，端子與接點箝夾鬆動等。
益和公司表示，瞬間導通不良是指當待測線材一般項目測試完成後，作搖擺測試時，突然接點導通電阻有變化過大的情況，但在其他角度時又恢復正常，這種現 象稱為瞬間導通不良。
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